报告摘要:

This year marks the 110th anniversary not only of Physics at Peking University, but also the discovery of X-ray diffraction by crystals. Since the advent of synchrotron sources, in situ X-ray scattering from surfaces has become a powerful probe to observe the atomic-scale mechanisms of epitaxial film growth. I will present highlights of such studies from the work of our group and others. The new generation of high-coherence X-ray sources presents exciting opportunities for observing dynamics and imaging surfaces during crystal growth.

报告人简介：

自1995年以来，G. Brian Stephenson博士在阿贡国家实验室领导同步辐射材料研究小组，并在2011至2014年间担任先进光子源（Advanced Photon Sources）的一把手。在加入阿贡之前，他曾在纽约的IBM研究中心担任团队负责人。Stephenson博士持有麻省理工学院学士学位和斯坦福大学的博士学位，并因其在物理学领域的卓越贡献于1991年被授予美国物理学会会士荣誉。因其在硬X射线纳米探针领域的突出贡献，他在2009年荣获了R&D 100奖。Stephenson博士将深入探讨第四代相干X射线在材料合成过程的动态观察和成像方面的前景和应用，并分享他在这个领域的深入见解和最新的研究成果。

现场参会报名：请于10月11日12:00前提交报名信息。

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6163银河线路检测中心学术论坛创办于2020年9月，邀请国内外高校和研究机构高层次科技创新领军学者就物理学及相关领域的基础前沿探索、关键技术突破和热点问题等做学术演讲，旨在推进高质量学术交流，促进学科交叉融合和开拓新兴特色方向研究，培养具有科学精神、全球视野、创新能力、批判性思维的优秀青年人才。

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