科学研究
科研成果
高鹏课题组与合作者报道电镜原位研究电场控制的位错运动
发布日期:2023-06-20 浏览次数:
  供稿:量子材料科学中心  |   编辑:孙祎   |   审核:冯济

    6163银河线路检测中心量子材料科学中心、电子显微镜实验室高鹏课题组与加拿大多伦多大学Yu Zou课题组、美国爱荷华州立大学Qi An课题组、加拿大达尔豪斯大学Penghao Xiao课题组合作进行了利用电场控制位错运动的研究。他们通过原位和原子尺度电镜表征结合理论计算揭示了电场控制位错运动的机制。该研究成果以“利用电场控制位错移动”(Harnessing dislocation motion using an electric field)为题,于6月19日发表在《自然-材料》(Nature Materials)。

    作为晶体中常见的一种缺陷,位错对晶体材料的诸如力学、电学、光学等物理化学性质有着重要的影响,因此控制位错运动一直是材料科学研究的主题之一。自从20世纪30年代位错理论建立以来,通常都认为位错运动需要应力来驱动,许多理论和实验工作都对应力加载下的位错运动行为进行了广泛和深入的研究。但是也有研究发现温度、电场甚至光等可以影响应力加载下的位错移动,比如20世纪60年代研究者发现将离子晶体,比如MgO,NaCl等,放在一个高电场下之后,通过重复刻蚀的方法可以观察到晶体表面刻蚀坑的变化,而刻蚀坑通常是由位错引起,表明位错和电场之间可能存在相互作用。另外,在透射电子显微镜中高能电子束的辐照下,研究人员也曾观察到材料中的位错偶尔会发生移动。不过通常还是认为这些非应力场的因素只是起到辅助作用,而应力仍然是驱动位错移动的不可或缺的因素。

    近期,高鹏课题组与Yu Zou教授、Qi An教授、Penghao Xiao教授的课题组合作,利用原位透射电子显微镜的局域电场技术研究了晶体中位错在电场下的演化行为,实现了非应力条件下仅仅由电场控制的位错运动。他们以半导体材料ZnS为例,图1展示了ZnS中电场驱动的位错运动。通过控制电场的大小和方向,就可以操控位错线的来回移动。比如当加载电压为正时,位错线向右侧运动。当加载电压为负时,位错线向左侧运动。整过过程中,应力效应可以忽略。这个结果为电场能够控制位错移动提供了直接的实验证据。

图1. 电场驱动单个位错移动。(a)实验装置示意图,通过金属针尖对样品加载电压。(b)位错线的初始位置。(c)加载电压达到正102 V时,位错线运动到右侧位置。(d)加载电压达到负90 V时,位错线运动到左侧位置。

 

    他们也对比了电场下不同位错类型的移动性。如图2所示,他们首先找到了30° 部分位错(位错B和D)和90° 部分位错(位错A,C和E)交替排列的区域。在外加电场下,30° 部分位错依赖于电场方向来回移动,但是90° 部分位错在整个过程中没有移动。这个结果说明30° 部分位错在电场下的移动性比90° 部分位错更高,表面电场下位错移动性依赖位错类型。而且可以直接观察到电场下位错移动的特点,包括钉扎-去钉扎现象,以及扭结(kink)的传播过程。

图2. 30° 部分位错和90° 部分位错在电场下的移动性对比研究。取决于于电场方向,30° 部分位错(位错B和D)可来回移动,但是90° 部分位错(位错A,C和E)在整个过程中没有移动。

 

    为了理解电场如何驱动位错移动,他们表征了位错核的原子结构,然后结合密度泛函理论计算分析了位错核的电子结构。图3a展示了一个典型30° S位错核的原子结构。较亮的圆斑对应的是Zn原子列,较暗的圆斑是S原子列。理论计算表明带负电的30° S位错比电中性状态更加稳定,因此实际样品中的位错很可能是带电的,位错核附近的电荷分布如图3b所示。这种带电位错使得电场可以通过库伦相互作用来控制位错运动。图3c展示了位错滑移势垒在带电状态以及在外加电场下的变化趋势。他们也分析了ZnS中另外三种类型的位错,发现电场都可以降低位错的滑移势垒,从而从能量角度解释了电场控制位错移动的机制。

 

图3. 位错原子结构以及滑移势垒分析。(a)30° S位错的原子结构图像。(b)外加负电荷在30° S位错附近的分布。(c)位错滑移势垒在带电状态和电场下的变化趋势。

 

    这个工作实现了由纯的电场控制的位错运动,不仅为非应力场下位错的可移动性提供了直接的实验证据,也为调控位错相关的晶体性质提供了新的可能。然而需要指出的是,相比于应力场下的位错移动,非应力场下的位错移动行为的探索还很少,其机理也有待更多深入和系统的研究。

    该论文的第一作者是加拿大多伦多大学材料科学与工程系研究生李明强,他之前是6163银河线路检测中心前沿交叉学科研究院2016级硕士研究生、6163银河线路检测中心研究助理。第二作者和第三作者分别是爱荷华州立大学博士研究生Yidi Shen和博士后Kun Luo。论文共同通讯作者为Qi An、高鹏、Penghao Xiao、Yu Zou。研究工作得到了6163银河线路检测中心电子显微镜实验室徐军、马秀梅、张敬民等在FIB制样和TEM表征方面的帮助,以及6163银河线路检测中心凝聚态物理与材料物理研究所叶堉副教授和谷平凡在电学测量方面的帮助。

    上述研究工作部分得到了国家重点研发计划、国家自然科学基金、量子物质科学协同创新中心、轻元素量子材料交叉平台等支持。


    论文原文链接: https://www.nature.com/articles/s41563-023-01572-7